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TO封装集成电路老化测试插座


TO封装集成电路老化测试插座

该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用,连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、镀银、镀镍等工艺,该插座耐高温、绝缘性能好,经久耐用,深受用户的欢迎。

产品型号及规格;

TO-4、6、8、10、12

主要技术指标;

环境温度;-55℃—+155℃  接触电阻;≤0.01欧     工作电压;DC500V     单脚插入力;≤0.2Kg    

磷青铜管镀银层厚度;1um2um     高低温状态下插拔寿命;2000-3000次.


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