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大规模集成电路老化测试插座


IC集成电路老化测试

该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。

产品型号及规格;

IC-4M-68J-1.27
主要技术指标;
间距;1.27mm      环境温度;-55—+155    接触电阻;≤0.01     工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg     弹片金层厚度;1um3um  封装形式:CPGA

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