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IC单列集成电路老化测试座

IC单列集成电路老化测试

该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。

产品型号及规格;

IC-10J

主要技术指标;

材料:陶瓷  磷青铜
间距;2.54mm            环境温度;-55—+255
接触电阻;≤0.01      工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg     弹片金层厚度;1um3um
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
                   

 

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